国际标准期刊号: 2329-6798
弗朗西斯科·索拉
本报告通过在透射电子显微镜 (TEM) 上采用电子束辐射,然后在扫描电子显微镜 (SEM) 上采用双探针电阻率法,研究了电子束辐射对碳纳米管 (CNT) 纱线电阻率的影响。高分辨率 TEM (HRTEM) 揭示,随着电子剂量的增加,CNT 纱线内的局部交联和无定形区域均被观察到。在使用的最大剂量下获得了电阻率下限值,该值低于原始纱线的电阻率。电阻率数据由考虑微观结构变化的拟议模型解释。
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