口腔健康和牙科管理

抽象的

使用共聚焦显微镜 (CFM) 和扫描电子显微镜 (SEM) 对使用两种抛光系统后的根表面微形貌进行体外评估

目的：比较和评估使用两种抛光器械进行根面平整后的根面粗糙度。
材料和方法：这项比较研究针对 10 颗已拔除的人牙样本，这些牙齿具有 20 个邻面根面。
对照组 1 和 2：（n=20 个根面）：Gracey 刮匙，垂直刮擦 15 次。
测试组 1（n=10）：对照组 1 + 终止金刚石刮匙 (TDC)，垂直刮擦 15 次。
测试组 2（n=10）：对照组 2 + 终止金刚石钻头 -15 μm (TDB)，以 3000 rpm 的速度冲洗 15 秒。
用抛光器械平整根面，并用共聚焦显微镜 (CFM) 和扫描电子显微镜 (SEM) 进行测试测量。
主要结果变量是表面粗糙度 (Ra)。
结果： CFM 显示，TDC 表面粗糙度 (Ra) 的平均变化量 (Ra) 降低了 0.11 ± 0.14 (p 值 = 0.000)，TDB 降低了 0.27 ± 0.86 (p 值 = 0.037)。两种抛光工具之间的 Ra 差异 (p 值 = 0.581) 不具有统计学意义。SEM 显示，第 2 组的表面通常比第 1 组更粗糙，平行凹槽更多。
结论：这两种抛光系统之间没有统计学上的显著差异，尽管在使用 Gracey Curettes 处理后，TDB 似乎比 TDC 更能降低表面粗糙度。