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抽象的

纳米尺度电化学阻抗谱研究阳极铝氧化阻挡膜的结构和性能

K. Habib 和 K. Al-Muhanna

本研究研究了退火处理对阳极氧化铝镁 (Al-Mg) 合金电化学行为和氧化阻挡膜厚度的影响。通过电化学阻抗谱 (EIS) 方法测定了在-1% H2SO4 的硫酸溶液中阳极氧化 Al-Mg 合金的极化电阻 (RP)、溶液电阻 (RSol)、交流阻抗 (Z) 和双层电容 (CdL) 等电化学参数。然后,根据所得电化学参数确定了阳极氧化 Al-Mg 合金在原始样品和退火样品条件下氧化膜厚度随硫酸浓度 (-1% H2SO4) 的变化。在硫酸浓度为 4% 和 2% H2SO4 时,原始样品 (4.2nm) 和退火样品 (0.63nm) 的最佳氧化膜厚度。原始样品的氧化膜厚度大于退火样品的氧化膜厚度的原因在于,与退火样品相比,原始样品的热力学不稳定(化学活性更高)。我们开发了一个数学模型来解释铝基体上氧化膜的形成机理。我们提出了铝基体上氧化膜形成的数学模型,以应对本研究的下一个挑战。

免责声明: 此摘要通过人工智能工具翻译,尚未经过审核或验证