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抽象的

产酸细菌引起快速点蚀生物腐蚀可能性的理论建模

顾廷月

生物腐蚀,也称为微生物腐蚀 (MIC),是由各种腐蚀性生物膜引起的。到目前为止,已发表文献中的实验室实验性 MIC 点蚀试验主要集中在使用硫酸盐作为终端电子受体的硫酸盐还原菌 (SRB) 上,因为 SRB 和硫酸盐经常出现在厌氧点蚀部位。已报告了许多实验室纯培养 SRB 点蚀数据,它们通常小于或不大于 1 毫米/年。对于使用硝酸盐或亚硝酸盐作为终端电子受体的硝酸盐还原菌 (NRB),也有一些有限的数据可用。缺乏专门的实验室研究,研究产酸菌 (APB) 的厌氧腐蚀,这些细菌在没有外部终端电子受体(如硫酸盐和硝酸盐)的情况下进行厌氧发酵而不是厌氧呼吸。文献中报道了由于 MIC 导致的原油和采出水管道故障。有人指出,点蚀速率非常高(高达 10 毫米/年),远高于 SRB 的短期实验室 MIC 点蚀速率。本文讨论的管道故障案例发生在硫酸盐含量相对较低的条件下。本文通过机械建模探讨了由于游离有机酸(以乙酸为代表)和酸性 pH 腐蚀导致非常高的 MIC 点蚀速率的可能性,表明 APB 生物膜能够发生非常快速的 MIC 点蚀,而从本体流体相到生物膜的硫酸盐扩散的传质限制无法支持低硫酸盐浓度环境下硫酸盐还原引起的非常快速的点蚀。APB 应该在 MIC 方面投入更多精力,而不是过多关注 SRB。

免责声明: 此摘要通过人工智能工具翻译,尚未经过审核或验证