Vidhya M、Varadharaju N、John Kennedy Z、Amirtham D 和 Manohar Jesudas D
X射线计算机断层扫描(CT)是一种主要用于医学应用的技术,它使用X射线图像重建物体的内部微观结构。这被认为是一种对任何材料进行3D成像的非破坏性和非侵入性技术。使用X射线,从各个角度记录样品的一系列射线照片,然后通过合适的重建算法重建内部3D微观结构。该方法具有很高的穿透力和探测效率,并且不受形态复杂性的限制。本文总结了X射线计算机断层扫描的概念和在食品加工各个领域中的应用。