食品加工与技术杂志

抽象的

利用无损软X射线法进行石榴品质分析

Payel G 和 Sunil CK

2011-2012 年印度的石榴产量为 772000 公吨（NHB 数据库 2012），石榴是一种营养丰富的水果，富含维生素 B、维生素 A、硫胺素、核黄素、烟酸、维生素 C 和矿物质（钾、钙、镁、磷、铁）。为了提高消费者认知度和确保出口质量等级，需要对石榴进行分级和分选。内部破裂缺陷会导致假种皮褐变或变黑，如果不加以注意，会产生典型的恶臭。这些内部缺陷无法从外观上识别，这对石榴加工业和出口构成了严重威胁，从而导致拒收和质量下降。与其他检测技术相比，X 射线检测具有明显的优势，因为它是对样品内部特征进行无损成像，从而检测出内部缺陷。软 X 射线发射光谱是一种确定材料电子结构的实验技术。使用带有半导体探测器的连续软X射线系统检测水果的内部质量。因此，本研究是利用软X射线技术发现石榴内部缺陷的研究之一。为了占领和维持国际市场，需要出口没有内部缺陷的高质量产品。本研究的目的是使用软X射线确定石榴的内部缺陷，并开发将有缺陷的石榴与健康石榴区分开来的算法。